1. 分析方法介绍
U 图（Unit Defect Control Chart）是一种用于监控单位缺陷数的统计工具。它适用于监控某一过程中单位产品的缺陷数（如每平方米产品中的缺陷数）。
2. 输入数据要求
在使用 U 图分析功能前，请确保数据满足以下要求：
- 缺陷数和子组大小应为数值类型。
- 每一列代表一个变量的缺陷数，或提供子组大小。
- 数据中不应包含缺失值，否则可能会影响分析结果。
- 建议样本量足够大，以确保控制图的可靠性。
提示：如果子组大小不一致，U 图会自动计算单位缺陷数。
3. 输出结果解释
U 图分析完成后，软件会生成以下结果：
3.1 U 图
U 图用于监控单位缺陷数的变化情况。图中包括：
- 中心线（CL）：代表单位缺陷数的均值。
- 控制限（UCL/LCL）：通过标准差倍数计算，通常为 ±3σ。
- 单位缺陷数点：每个子组的单位缺陷数在图中用点表示。
- 异常点：根据判异规则标记的异常单位缺陷数。
3.2 自定义设置效果
用户可以根据分析需求进行以下自定义设置：
- 子组大小：设置每个子组的大小，用于计算单位缺陷数。
- 标准差倍数参考线：设置不同倍数的标准差参考线（如 ±1σ、±2σ、±3σ），帮助深入分析数据分布。
- 自定义 Y 值：在已知单位缺陷数的情况下，手动输入 Y 值，调整控制图的中心线和控制限。
4. 操作步骤
- 选择“U 图”分析方法。
- 选择需要分析的变量（可多选）。
- 设置子组大小。
- 设置标准差倍数参考线（默认 ±3σ）。
- 自定义 Y 值（可选）。
- 选择判异规则。
- 点击“保存”按钮。
- 查看并解读输出结果。
